OTDR的英文全稱是Optical Time Domain Reflectometer，中文意思為光時域反射儀。OTDR是利用光線在光纖中傳輸時的瑞利散射和菲涅爾反射所產生的背向散射而製成的精密光電一體化儀表，應用於光纖線路的製造、維護、施工之中，可進行光纖長度、光纖傳輸衰減、連接器衰減和光纖誤點定位等的測量，但因功能較複雜，操作上較具難度。

若只需要光纖線長測試、光纖誤點定位和資料儲存功能等基本功能時，則可以考慮光纖誤點測試儀handyOTDR，價格實惠，操作上也更加簡便。

前置作業：

• 光纖品質的簡單判別：

正常情況下，OTDR測試的光線曲線主體斜率基本一致，若某一段斜率較大，則表明此段衰減較大；若曲線主體為不規則形狀，斜率起伏較大，彎曲或呈弧狀，則表明光纖品質不良，不符合通信要求，光纖線品質不良時，光纖傳輸必然受到影響，應找有信譽的廠商購買光纖線材。
 

• 光纖連接器清潔：

光纖連接器接入OTDR前，必須清潔，開始清潔接頭之前請先關閉OTDR。光纖不清潔時可能導致損耗過大，嚴重時還可能損壞OTDR儀器。光纖清潔工具是光纖清潔不可或缺的必備工具，光纖清潔帶CLEANSSETTE目前已經普遍被使用於光纖製造、佈線和維護，建議選購專業光纖清潔工具進行清潔，避免因小失大。

參數設置：

OTDR的使用：

用OTDR進行光纖測量可分為三步：參數設置、取得數據和曲線分析。人工設置測量參數包括：
 

• 波長選擇(λ)：

因不同的波長對應不同的光線特性(包括衰減、微彎等)，測試波長一般遵循與系統傳輸通信波長相對應的原則，常用波長為850nm、1300nm、1310nm、1550nm。
 

• 脈衝(Pulse Width)：

脈寬越長，動態測量範圍越大，測量距離更長，但在OTDR曲線波形中產生盲區更大；短脈衝注入光平低，但可減小盲區。脈寬周期通常以ns來表示。
 

• 測量範圍(Range)：

OTDR測量範圍是指OTDR獲取數據取樣的最大距離，此參數的選擇決定了取樣解析度的大小。最佳測量範圍為待測光纖長度1.5～2倍距離之間。
 

• 平均時間：

由於後向散射光信號極其微弱，一般採用統計平均的方法來提高信噪比，平均時間越長，信噪比越高。例如，3分鐘的獲得取將比1分鐘的獲得取提高0.8dB的動態。但超過10分鐘的獲得取時間對信噪比的改善並不大。一般平均時間不超過3分鐘。
 

• 光纖參數：

光纖參數的設置包括折射率n和後向散射係數n和後向散射係數η的設置。折射率參數與距離測量有關，後向散射係數則影響反射與回波損耗的測量結果。這兩個參數由光纖生產廠商提供。參數設置好後，OTDR即可發送光脈衝並接收由光纖散射和反射回來的光，對光電探測器的輸出取樣，得到OTDR曲線，對曲線進行分析即可了解光纖線材的品質。

基本概念：

• 波長的選擇和單雙向測試：

1550nm波長測試距離更遠，1550nm比1310nm光纖對彎曲更敏感，1550nm比1310nm單位長度衰減更小、1310nm比1550nm測的熔接或連接器損耗更高。
 

• 折射係數與散射係數的校正：

就光纖長度測量而言，折射係數每0.01的偏差會引起7m/km之多的誤差，對於較長的光纖線段，應採用光纖製造商提供的折射率值。
 

• 盲區的識別與處理：

盲區為強烈反射涵蓋量測資料的OTDR 軌跡部分。這是因為強烈信號在接收器內需要花一些時間恢復。衰減盲區描述從反射事件前邊緣直到它返回光纖後向散射位準的距離。消除盲區：選擇短脈衝寬度、在強反射前端(如：OTDR輸出端)中增加衰減。
 

• 正增益現象處理：

如果接合做的不好，您可能會看到ㄧ些反射。有些接合看起來好像增益，彷彿功率位準增加。這是因為光纖在接合前與接合後的後向散射係數不同所致。光纖熔接點上是損耗的，常出現在不同模場直徑或不同後向散射係數的光纖的熔接過程中，因此，需要在兩個方向測量並對結果取平均作為該熔接損耗。在實際的光纖維護中，也可採用≤0.08dB即為合格的簡單原則。
 

• 連接線的使用：

連接線是用來連接OTDR與待測光纖。一般來說，OTDR與待測光纖間的連接器引起的盲區最大。在光纖實際測量中，在OTDR與待測光纖間加接一段連接線，使前端盲區落在連接線內，而待測光纖始端落在OTDR曲線的線性穩定區。如要測量首、尾兩端連接器的插入損耗，可在每端都加一連接線。

資料來源：

壹讀